কিভাবে এর স্থিতিশীলতা উন্নত করা যায়সিরিজ অনুরণন পরীক্ষা ডিভাইস? উহান ইউএইচভি পণ্য নির্বাচন এবং পেশাদার বৈদ্যুতিক পরীক্ষার বিস্তৃত পরিসর সহ সিরিজ অনুরণন উত্পাদনে বিশেষজ্ঞ। খুঁজে বের করতেসিরিজ অনুরণন, উহান UHV নির্বাচন করুন।
দসিরিজ অনুরণন পরীক্ষা ডিভাইসএসি সহ্য ভোল্টেজ পরীক্ষা পরিচালনা করার জন্য বর্তমানে আমাদের জন্য সেরা পছন্দ। ক্রমাগত ব্যবহারের মাধ্যমে, আমরা আবিষ্কার করেছি কিভাবে সিরিজ রেজোন্যান্স টেস্ট ডিভাইসের পদ্ধতি আরও উন্নত করা যায়। নীচে, উহান ইউএইচভি তার নিজস্ব সারাংশের উপর ভিত্তি করে আপনার সাথে শেয়ার করবে।
পরীক্ষায়, এটি পাওয়া গেছে যে যখন ভোল্টেজ পরীক্ষার ভোল্টেজের কাছাকাছি বেড়ে যায়, তখন ভোল্টেজ বৃদ্ধির গতি খুব দ্রুত হয় এবং এর সাথে উল্লেখযোগ্য ভোল্টেজ ওঠানামা হয়, যা এমনকি ভোল্টেজ সুরক্ষা ক্রিয়াও ঘটাতে পারে এবং পরীক্ষাটি পুনরায় চালু করতে হবে, যা সরঞ্জামের নিরাপত্তার জন্য ক্ষতিকর। কিন্তু যদি ভোল্টেজ সুরক্ষা মান খুব বেশি সেট করা হয়, তবে এটি কার্যকরভাবে ওভারভোল্টেজ থেকে পরীক্ষিত সরঞ্জামগুলিকে রক্ষা করতে পারে না। R-L-C সার্কিটের সাধারণ ফ্রিকোয়েন্সি চরিত্রগত বক্ররেখা অনুসারে:
এর ফ্রিকোয়েন্সি চরিত্রগত বক্ররেখা পরিবর্তন করার দুটি পদ্ধতি রয়েছে সিরিজ অনুরণন পরীক্ষা ডিভাইস:
1. অনুরণিত ফ্রিকোয়েন্সি থেকে বিচ্যুতিতে পরীক্ষা পরিচালনা করতে বেছে নিন। আমরা জানি যে টেস্ট ট্রান্সফরমারের ক্ষমতা কমানোর জন্য, Q মান যতটা সম্ভব বড় নির্বাচন করা উচিত কিন্তু যখন Q মান বড় হয়, অনুরণন ফ্রিকোয়েন্সি থেকে বিচ্যুত হওয়ার সময় এটি তুলনামূলকভাবে ধীর হয়। সুতরাং, আমরা ভোল্টেজ বৃদ্ধির গতি হ্রাস করার লক্ষ্য অর্জনের জন্য পরীক্ষার ট্রান্সফরমারের ক্ষমতা অনুমতি দেয় এমন শর্তে বুস্ট করার জন্য অনুরণিত ফ্রিকোয়েন্সি থেকে বিচ্যুত হওয়া বেছে নিতে পারি।
2. সার্কিটের মানের ফ্যাক্টর সামঞ্জস্য করুন। Q=Uc/U=1/ω CR চিত্রে দেখানো হয়েছে, Q মান কমাতে, সার্কিট প্রতিরোধ বাড়াতে হবে। অতএব, পরীক্ষার ভোল্টেজ অর্জনের জন্য, উত্তেজনা ট্রান্সফরমারের আউটপুট ক্ষমতাও বাড়াতে হবে। অতএব, এই পদ্ধতিটি প্রয়োগ করার সময়, এটি অবশ্যই সক্ষমতা ভাতার শর্তে করা উচিত।
স্থিতিশীলতা উন্নত করার পদ্ধতি আয়ত্ত করাসিরিজ অনুরণন পরীক্ষা ডিভাইসইনস্ট্রুমেন্টের কার্যকারিতা আরও ভালভাবে নিশ্চিত করতে এবং সাইটে- পরীক্ষার সময় আরও সঠিক পরিমাপ ডেটা পেতে আমাদের জন্য উপকারী৷