এলসি সিরিজ অনুরণন আবেদন

Nov 12, 2025 একটি বার্তা রেখে যান

এলসি সিরিজের অনুরণনের প্রয়োগ? উহান ইউএইচভি উৎপাদনে বিশেষজ্ঞসিরিজ অনুরণন, পণ্য নির্বাচন এবং পেশাদার বৈদ্যুতিক পরীক্ষার বিস্তৃত পরিসর সহ। খুঁজে বের করতেসিরিজ অনুরণন, উহান UHV নির্বাচন করুন।

 

AC Resonant Test Set


অনুরণন দ্বারা সৃষ্ট অসুবিধা


অনুরণন প্রধানত উচ্চ-শক্তি রূপান্তরকারী সরঞ্জাম (রাসায়নিক ইলেক্ট্রোলাইটিক সংশোধন সরঞ্জাম সহ) এবং অন্যান্য অরৈখিক লোড দ্বারা উত্পন্ন হয় যাকে হারমোনিক উত্স বলা হয়। সুরেলা উত্স দ্বারা উত্পন্ন অনুরণন কেবল পাওয়ার গ্রিড এবং অন্যান্য পাওয়ার ব্যবহারকারীদেরই বিপন্ন করে না, বরং নিজেকেও বিপন্ন করে। অতএব, সুরেলা নিয়ন্ত্রণ প্রয়োজনীয় এবং ব্যবহারিক অর্থনৈতিক সুবিধা রয়েছে। উদাহরণ: একটি নির্দিষ্ট রাসায়নিক উদ্ভিদ হাওকুন স্টেশন দ্বারা চালিত হয়। স্টেশনে 10.8Mvar সমান্তরাল ক্যাপাসিটরগুলির তিনটি সেট ইনস্টল করা আছে, যেগুলি যথাক্রমে 4.5%, 7% এবং 12% বিক্রিয়ার হার সহ চুল্লিগুলির সাথে সিরিজে সংযুক্ত। এগুলি যথাক্রমে পঞ্চম এবং তার উপরে, চতুর্থ এবং উপরে, এবং তৃতীয় এবং উপরের হারমোনিক্সের পরিবর্ধন সীমিত করতে এবং যথাক্রমে পঞ্চম, চতুর্থ এবং তৃতীয় হারমোনিক্সের জন্য অসম্পূর্ণ কম্পন ফিল্টারিং তৈরি করতে ব্যবহৃত হয়। অপারেশন করার পরে, ক্যাপাসিটারগুলি গুরুতর ওভারলোড এবং অস্বাভাবিক শব্দ অনুভব করেছিল। কিছু ক্যাপাসিটার চালু হওয়ার পরপরই ফুলে যায়। পরে পরীক্ষায় দেখা গেছে যে বাসের হারমোনিক ভোল্টেজ এবং ক্যাপাসিটর সার্কিটের হারমোনিক কারেন্ট মানকে ছাড়িয়ে গেছে। সরঞ্জামের আরও ক্ষতি রোধ করতে, সমস্ত 10.8Mvar ক্যাপাসিটারগুলিকে অপারেশন থেকে সরিয়ে নেওয়া হয়েছিল। হেকুন স্টেশনের আরও পরীক্ষা দেখায় যে হারমোনিক্স প্রধানত একটি নির্দিষ্ট রাসায়নিক উদ্ভিদ থেকে আসে, উচ্চ হারমোনিক সামগ্রী এবং একটি বিস্তৃত ফ্রিকোয়েন্সি বর্ণালী পরিসীমা (সর্বনিম্ন গৌণ)। রাসায়নিক প্ল্যান্টে ওয়্যারিং, সরঞ্জাম কনফিগারেশন এবং পাওয়ার ডিস্ট্রিবিউশন সিস্টেমের অপারেশন সম্পর্কে পেশাদার কর্মীদের দ্বারা একাধিক তদন্ত এবং পরীক্ষার পরে, পরিস্থিতিটি মূলত ধরা পড়েছে, এবং দ্বিতীয় এবং উচ্চতর সুরেলা প্রজন্মের কারণগুলি বিশ্লেষণ করা হয়েছে, এবং কার্যকর শাসন পরিকল্পনা প্রণয়ন করা হয়েছে।


এর আবেদন সিরিজ অনুরণন


ফ্রিকোয়েন্সি নির্বাচন


সিগন্যাল নির্বাচন করতে রেডিও রিসিভারের টিউনিং সার্কিটে সিরিজ রেজোন্যান্ট সার্কিটের ফ্রিকোয়েন্সি নির্বাচন বৈশিষ্ট্য ব্যবহার করা হয়। রিসিভার অ্যান্টেনা বিভিন্ন ফ্রিকোয়েন্সির সংকেত গ্রহণ করে এবং সিরিজ রেজোন্যান্ট সার্কিটে সংশ্লিষ্ট ইলেক্ট্রোমোটিভ বাহিনীকে প্ররোচিত করে। এই মুহুর্তে, "ভেরিয়েবল ক্যাপাসিটর" এর মান পরিবর্তন করে কাঙ্ক্ষিত সিগন্যাল ফ্রিকোয়েন্সি একটি সিরিজ রেজোন্যান্ট অবস্থায় সামঞ্জস্য করে। সার্কিটের প্রতিবন্ধকতা ন্যূনতম করা হয় এবং সেই ফ্রিকোয়েন্সিতে কারেন্ট সর্বাধিক করা হয়। এই ফ্রিকোয়েন্সিতে ভোল্টেজও পরিবর্তনশীল ক্যাপাসিটরের উভয় প্রান্তে সর্বোচ্চ। যাইহোক, রেজোন্যান্সের অনুপস্থিতির কারণে অন্যান্য ফ্রিকোয়েন্সিতে সংকেত ক্ষয়প্রাপ্ত হয়, তাই সার্কিটে কারেন্ট খুবই ছোট, এইভাবে সংকেত নির্বাচন এবং হস্তক্ষেপ দমনে ভূমিকা পালন করে।


ফিল্টারিং


যদি একটি ট্র্যাপিজয়েডাল তরঙ্গ বা আয়তক্ষেত্রাকার তরঙ্গ একটি সাইন সংকেতে রূপান্তরিত হয়, তাহলে উচ্চ-ক্রমের হারমোনিক্স ফিল্টার করা আবশ্যক। একটি সহজ পদ্ধতি হল ট্র্যাপিজয়েডাল তরঙ্গ বা আয়তক্ষেত্রাকার তরঙ্গের ফুরিয়ার সিরিজ সম্প্রসারণ ব্যবহার করে অসীম সংখ্যক বিজোড় হারমোনিক এসি উপাদান পেতে, এবং হারমোনিক ক্রম বৃদ্ধির সাথে সাথে প্রতিটি হারমোনিকের সর্বোচ্চ মান দ্রুত হ্রাস পায়। এটি দেখা যায় যে যতক্ষণ পর্যন্ত ট্র্যাপিজয়েডাল তরঙ্গ বা আয়তক্ষেত্রাকার তরঙ্গের সর্বাধিক তৃতীয় এবং পঞ্চম হারমোনিক্স ফিল্টার করা হয়, ততক্ষণ একটি অপেক্ষাকৃত মানক সাইন তরঙ্গ পাওয়া যায়। রেজোন্যান্স আয়তক্ষেত্রাকার তরঙ্গের মৌলিক হারমোনিকের মধ্যে ঘটে, যার অর্থ হল ফিল্টারিং সার্কিট অনুরণনের বৈশিষ্ট্যগুলি থেকে জানে যে যখন একটি নির্দিষ্ট ফ্রিকোয়েন্সিতে AC শক্তির সাথে সিরিজ অনুরণন ঘটে, তখন সেই কম্পাঙ্কে AC পাওয়ারের প্রতিবন্ধকতা সবচেয়ে ছোট হয়, যখন সমান্তরাল অনুরণন ঘটে, তখন সেই AC mo কম্পাঙ্কের প্রতিবন্ধকতা সবচেয়ে বড় হয়।


বৈশিষ্ট্য


ভোল্টেজ তরঙ্গরূপ ভাল.সিরিজ অনুরণনএকটি ভোল্টেজ সহ্য করার অবস্থা যা সম্পূর্ণ অনুরণনের কাছাকাছি। পরীক্ষার নমুনায় নিরোধকের দুর্বল বিন্দুটি ভেঙে গেলে, সার্কিটটি অনুরণন অবস্থা হারায়। অতএব, শর্ট সার্কিট কারেন্ট অবিলম্বে টেস্ট কারেন্টের এক দশমাংশে নেমে আসে, উচ্চ ভোল্টেজ অবিলম্বে অদৃশ্য হয়ে যায় এবং চাপটি অবিলম্বে নিভে যায়। যাইহোক, প্রথাগত পরীক্ষার পদ্ধতি ব্যবহার করে, শর্ট-বর্তমান বর্তনী খুব বড় হবে, এবং পরীক্ষার নমুনা টেস্ট ট্রান্সফরমারের সাথে সিরিজ অনুরণন তৈরি করতে পারে, যার ফলে উল্লেখযোগ্য ওভারভোল্টেজ হয়, যা পরীক্ষার নমুনা এবং পরীক্ষার সরঞ্জামগুলির জন্য খুবই ক্ষতিকর। আকারে ছোট এবং লাইটওয়েট, সাইটে - ব্যবহারের জন্য উপযুক্ত। পরীক্ষা পাওয়ার সাপ্লাইয়ের ক্ষমতা এবং ওজন উল্লেখযোগ্য হ্রাসের কারণে, সেইসাথে বিশাল ভোল্টেজ নিয়ন্ত্রকদের নির্মূল করার কারণে, এটি পরিবহণ করা এবং সাইটের পরীক্ষা পাওয়ার সাপ্লাই সমস্যাগুলি- সমাধান করা সহজ। সংযোগ করা সহজ, পরিচালনা করা সহজ, ভোল্টেজ এবং ফ্রিকোয়েন্সি সামঞ্জস্য উচ্চ রেজোলিউশন এবং ভাল স্থিতিশীলতার সাথে ক্রমাগত এবং সূক্ষ্মভাবে সামঞ্জস্য করা যেতে পারে।


10kV পরীক্ষার পদ্ধতি এবং নীতি


পাওয়ার সিস্টেমের ক্রমাগত বিকাশ এবং সিস্টেমের ক্রমবর্ধমান ক্ষমতা এবং ভোল্টেজের মাত্রার সাথে, বৈদ্যুতিক সরঞ্জামগুলির জন্য পরীক্ষার পদ্ধতিগুলিকে উন্নত করতে হবে। কারণ পাওয়ার ইকুইপমেন্টের টেস্টিং রেগুলেশন এবং প্রতিরোধমূলক টেস্টিং রেগুলেশন অনুযায়ী, বৈদ্যুতিক ইকুইপমেন্টে এসি সহ্য ভোল্টেজ পরীক্ষা করা প্রয়োজন, যার জন্য উচ্চ ভোল্টেজ সোর্স প্রয়োজন। উচ্চ ভোল্টেজ পাওয়ার আগের পদ্ধতিটি ছিল পাওয়ার ফ্রিকোয়েন্সি বুস্টিংয়ের জন্য একটি বড় অনুপাত ভোল্টেজ ট্রান্সফরমার ব্যবহার করা। এই বুস্টিং পদ্ধতি ব্যবহার করে, ব্যবহৃত যন্ত্রপাতির বড় এবং বিশাল আকারের কারণে, একটি ক্রেন অবশ্যই চলাচল এবং ইনস্টলেশনের জন্য ব্যবহার করা উচিত, যা সাইটে পরীক্ষা করা অত্যন্ত অসুবিধাজনক করে তোলে। সিরিজ রেজোন্যান্সের নীতির উপর ভিত্তি করে ডিজাইন করা একটি নতুন বুস্টিং ডিভাইস শুধুমাত্র আনাড়ি পরীক্ষার সরঞ্জামের সমস্যার সমাধান করে না, তবে বৈদ্যুতিক সরঞ্জামগুলিতে ভোল্টেজ পরীক্ষাও ভালভাবে সম্পন্ন করে। একটি সিরিজ রেজোন্যান্ট বুস্ট ডিভাইসের সাথে একই সরঞ্জাম পরীক্ষা করার জন্য, শুধুমাত্র ইন্ডাক্টর, ক্যাপাসিটর এবং কিছু ছোট সহায়ক সরঞ্জাম প্রয়োজন। পরীক্ষার সময়, ক্যাপাসিটরগুলির প্রতিটি গ্রুপ সমান্তরালভাবে সংযুক্ত থাকে এবং তারপরে একটি আবেশকের সাথে সিরিজে সংযুক্ত থাকে। পরীক্ষা প্রকল্পটি একটি মডুলার ওভারল্যাপিং পদ্ধতির মাধ্যমে তাদের একত্রিত করে সম্পন্ন করা যেতে পারে। এই পরীক্ষা ডিভাইসের খরচ একটি বৃহৎ অনুপাত ভোল্টেজ ট্রান্সফরমারের অনুরূপ, 100000 ইউয়ানের কম। যাইহোক, একটি সিরিজ রেজোন্যান্ট বুস্টিং ডিভাইসের প্রয়োগ প্রতিটি পরীক্ষায় অত্যধিক খরচ বাঁচাতে পারে এবং পরীক্ষায় অসুবিধা এড়াতে পারে। সুতরাং সিরিজ অনুনাদিত বুস্ট ডিভাইসের ভাল অর্থনৈতিক এবং ব্যবহারিক মান রয়েছে এবং প্রকৌশল পরীক্ষায় প্রচার করা শুরু হয়েছে।


পরীক্ষার নমুনার পরামিতিগুলি মূল সিরিজ সার্কিটের বৈশিষ্ট্যগুলিকে প্রভাবিত করতে পারে এই কারণে, Cx এবং C, Co, এবং L-এর মধ্যে সম্পর্ক বিশ্লেষণ করা উচিত এবং সার্কিটে অনুরণন প্ররোচিত করার জন্য বিবেচনা করা উচিত। L এবং C সামঞ্জস্য করা সার্কিটটিকে অনুরণন বিন্দুতে আনতে পারে। দেখা যায় যে যদিওসিরিজ অনুরণিত পরীক্ষা সিস্টেমআনাড়ি সরঞ্জামের অসুবিধা সমাধান করে, বিভিন্ন ডিভাইস পরীক্ষা করার সময় অনুরণন নীতির উপর ভিত্তি করে এল এবং সি-এর মানগুলি অগ্রিম গণনা করা প্রয়োজন। সিরিজ রেজোন্যান্সের অ্যাপ্লিকেশন ডিভাইস ব্যবহার করে, ট্রান্সফরমার এসি ভোল্টেজ পরীক্ষা সহ্য করা সুবিধাজনক। যাইহোক, পার্থক্য হল যে যখন ট্রান্সফরমারের মাটিতে একটি বড় ক্যাপাসিট্যান্স থাকে, তখন এর ক্যাপাসিট্যান্স মানটি টিউনিংয়ে অন্তর্ভুক্ত করা প্রয়োজন, যখন মাটিতে ক্যাপ্যাসিট্যান্স খুব ছোট হয়, টিউনিংয়ের সময় শুধুমাত্র যন্ত্রের অনুরণন অবস্থা বিবেচনা করা প্রয়োজন। তদুপরি, ট্রান্সফরমারের প্রাথমিক এবং মাধ্যমিক দিকের মধ্যে পরামিতি বৈশিষ্ট্যের মধ্যে উল্লেখযোগ্য পার্থক্য রয়েছে। অতএব, পরীক্ষা পদ্ধতিতে নেওয়া এল এবং সি মানগুলি সঠিকভাবে গণনা করা এবং ডিজাইন করা প্রয়োজন।

অনুসন্ধান পাঠান

whatsapp

ফোন

ই-মেইল

অনুসন্ধান