উচ্চ ভোল্টেজ টেস্টিং এর উপর ভিত্তি করে শ্রেণিবদ্ধ করা হয়উদ্দেশ্য, ভোল্টেজের ধরণ প্রয়োগ, এবংপরীক্ষার প্রকৃতি(ধ্বংসাত্মক বনাম . অ-ধ্বংসাত্মক) . এখানে একটি কাঠামোগত ভাঙ্গন রয়েছেপ্রধান শ্রেণিবিন্যাসউচ্চ ভোল্টেজ পরীক্ষার:
উদ্দেশ্য ভিত্তিতে 1.
| শ্রেণিবদ্ধকরণ | বর্ণনা |
|---|---|
| টেস্ট টাইপ | মানগুলির সাথে ডিজাইনের সম্মতি যাচাই করতে নমুনা ইউনিটগুলিতে সম্পাদিত . |
| রুটিন পরীক্ষা | উত্পাদন মানের . নিশ্চিত করতে উত্পাদন প্রতিটি ইউনিটে সম্পন্ন |
| কমিশন পরীক্ষা | পরিষেবাতে সরঞ্জাম রাখার আগে সাইটে সম্পন্ন হয়েছে . |
| রক্ষণাবেক্ষণ পরীক্ষা | পরিষেবা জীবনের সময় নিরোধক স্বাস্থ্য নিরীক্ষণের জন্য পর্যায়ক্রমে সম্পন্ন . |
| বিশেষ পরীক্ষা | গবেষণা, ফরেনসিক বিশ্লেষণ বা নতুন শর্তগুলির জন্য কাস্টমাইজড পরীক্ষাগুলি . |
ভোল্টেজ প্রয়োগের প্রকৃতির উপর ভিত্তি করে 2.
| পরীক্ষার ধরণ | ভোল্টেজের ধরণ | বর্ণনা |
|---|---|---|
| ডিসি উচ্চ ভোল্টেজ পরীক্ষা | সরাসরি কারেন্ট | ধ্রুবক পোলারিটি এইচভি প্রয়োগ করে; তারের জন্য ব্যবহৃত, বুশিংস . |
| এসি উচ্চ ভোল্টেজ পরীক্ষা | বিকল্প বর্তমান | পাওয়ার-ফ্রিকোয়েন্সি এসি (50/60 হার্জ) বা লো-ফ্রিকোয়েন্সি এসি . প্রয়োগ করে |
| প্ররোচিত পরীক্ষা | প্ররোচিত ভোল্টেজ | সার্জগুলি অনুকরণ করে (বজ্রপাত, স্যুইচিং); খুব স্বল্প সময়কাল . |
| খুব কম ফ্রিকোয়েন্সি (ভিএলএফ) | লো-ফ্রিকোয়েন্সি এসি (0.1 হার্জ) | দীর্ঘ তারের নিরোধক পরীক্ষার জন্য নিম্ন-শক্তি বিকল্প . |
| দোলন তরঙ্গ পরীক্ষা | দোলন তরঙ্গরূপ | ডায়াগনস্টিক পরীক্ষায় ব্যবহৃত হয়, প্রায়শই আংশিক স্রাবের সাথে . |
ধ্বংসাত্মক বনাম . অ-ধ্বংসাত্মক উপর ভিত্তি করে 3.
| শ্রেণিবদ্ধকরণ | লক্ষ্য | বর্ণনা |
|---|---|---|
| ধ্বংসাত্মক পরীক্ষা | ব্যর্থতা ধাক্কা | ব্রেকডাউন পয়েন্ট নির্ধারণ করে (ই . জি ., ইনসুলেশন পাঞ্চার পরীক্ষা) . |
| অ-ধ্বংসাত্মক পরীক্ষা | সততা মূল্যায়ন | অবজেক্টের ক্ষতি না করে নিরোধক স্বাস্থ্যের বিষয়টি নিশ্চিত করে . |
পরীক্ষার উদ্দেশ্য ভিত্তিক 4.
A. ডাইলেট্রিক শক্তি পরীক্ষা
বাধা (হিপট) পরীক্ষা: একটি নির্দিষ্ট সময়ের জন্য ওভারভোল্টেজ প্রয়োগ করুন; কোনও ভাঙ্গন নেই=পাস .
ব্রেকডাউন পরীক্ষা: নিরোধক ব্যর্থ হওয়া পর্যন্ত ভোল্টেজ বৃদ্ধি করুন (ধ্বংসাত্মক) .
B. ডায়াগনস্টিক পরীক্ষা
নিরোধক প্রতিরোধ (আইআর): মেগোহমমিটার (ডিসি) ব্যবহার করে; সাধারণ নিরোধক চেক .
ক্যাপাসিট্যান্স এবং ট্যান ডেল্টা (ডিসপ্লিপেশন ফ্যাক্টর): ডাইলেট্রিক ক্ষতির ব্যবস্থা .
আংশিক স্রাব (পিডি) পরিমাপ: মাইক্রো-ইনসুলেশন ত্রুটিগুলি সনাক্ত করে .
সময় ডোমেন প্রতিচ্ছবি (টিডিআর): তারগুলিতে ত্রুটিগুলি সনাক্ত করে .
দোলন তরঙ্গ পরীক্ষা (ওডাব্লুটিএস): দীর্ঘ তারগুলিতে লো-এনার্জি পিডি টেস্টিং .
C. উত্সাহ (আবেগ) পরীক্ষা
বজ্রপাত পরীক্ষা: 1 . 2/50 µs ওভারভোল্টেজ (আইইসি/আইইইই স্ট্যান্ডার্ড) অনুকরণ করে।
প্ররোচিত পরীক্ষা স্যুইচিং: EHV সিস্টেমগুলিতে ধীর গতিতে অনুকরণ করে (E . g ., 250/2500 µs) .
আন্তর্জাতিক মান অনুযায়ী 5.
অনেকগুলি পরীক্ষা যেমন মানগুলিতে সংজ্ঞায়িত করা হয়:
| স্ট্যান্ডার্ড | সুযোগ |
|---|---|
| Iec 60060-1/-2 | সাধারণ এইচভি পরীক্ষার কৌশল |
| আইইসি 60502 / আইইসি 60840 | এইচভি কেবল টেস্টিং (এসি, ভিএলএফ, পিডি, ইত্যাদি .) |
| আইইসি 60076-3 | ট্রান্সফর্মার ডাইলেট্রিক পরীক্ষা |
| আইইইই 400 সিরিজ | মাঠের পরীক্ষা এবং কেবল সিস্টেমগুলির মূল্যায়ন |
| আইইসি 60270 | পিডি পরিমাপ এবং পরীক্ষার পদ্ধতি |
সংক্ষিপ্ত টেবিল
| শ্রেণিবদ্ধকরণ পদ্ধতি | উদাহরণ |
|---|---|
| দ্বারাউদ্দেশ্য | টাইপ পরীক্ষা, রুটিন পরীক্ষা, কমিশন পরীক্ষা |
| দ্বারাভোল্টেজের ধরণ | এসি, ডিসি, ইমালস, ভিএলএফ, দোলন তরঙ্গ |
| দ্বারাধ্বংসাত্মকতা | ধ্বংসাত্মক (ব্রেকডাউন), অ-ধ্বংসাত্মক (সহ্য, পিডি) |
| দ্বারাউদ্দেশ্য | ডাইলেট্রিক, ডায়াগনস্টিক, সার্জ সিমুলেশন |
| দ্বারাস্ট্যান্ডার্ড | আইইসি, আইইইই, এএনএসআই-ভিত্তিক শ্রেণিবিন্যাস |




