একটি ট্রান্সফরমারের ক্ষমতা পরীক্ষা করার জন্য লোড পরিচালনা করার এবং নির্দিষ্ট অপারেটিং অবস্থার অধীনে প্রয়োজনীয় পাওয়ার আউটপুট সরবরাহ করার ক্ষমতা মূল্যায়ন করার জন্য বিভিন্ন পরীক্ষা পরিচালনা করা জড়িত। ট্রান্সফরমার ডিজাইন স্পেসিফিকেশন, দক্ষতার মান এবং নিয়ন্ত্রক প্রয়োজনীয়তা পূরণ করে কিনা তা নির্ধারণ করতে এই পরীক্ষাগুলি করা হয়। এখানে একটি ট্রান্সফরমারের ক্ষমতা পরীক্ষা করার জন্য ব্যবহৃত কিছু সাধারণ পদ্ধতি রয়েছে:
লোড পরীক্ষা: নির্দিষ্ট লোড অবস্থার অধীনে ট্রান্সফরমারের প্রকৃত পাওয়ার আউটপুট নির্ধারণ করতে লোড পরীক্ষা করা হয়। এই পরীক্ষায় ট্রান্সফরমারের সেকেন্ডারি উইন্ডিং এর সাথে রেজিস্টিভ লোড বা লোড ব্যাঙ্কগুলিকে সংযুক্ত করা এবং ভোল্টেজ, কারেন্ট, পাওয়ার ফ্যাক্টর এবং তাপমাত্রার মতো পরামিতিগুলি পর্যবেক্ষণ করার সময় লোডকে ধীরে ধীরে রেট করা ক্ষমতাতে বাড়ানো জড়িত। লোড পরীক্ষা তাপমাত্রা সীমা বা ভোল্টেজ নিয়ন্ত্রণ সীমা অতিক্রম না করে রেট পাওয়ার আউটপুট প্রদান করার জন্য ট্রান্সফরমারের ক্ষমতা যাচাই করে।
শর্ট-সার্কিট পরীক্ষা: শর্ট-সার্কিট পরীক্ষা, যা ইম্পিডেন্স পরীক্ষা বা লকড রটার পরীক্ষা নামেও পরিচিত, শর্ট-সার্কিট অবস্থার সাথে ট্রান্সফরমারের সক্ষমতা নির্ধারণ করতে এবং ফল্ট অবস্থার অধীনে রেট করা বর্তমান সরবরাহ করার জন্য পরিচালিত হয়। এই পরীক্ষায়, ট্রান্সফরমারের সেকেন্ডারি উইন্ডিং-এ একটি কম-প্রতিবন্ধক শর্ট-সার্কিট প্রয়োগ করা হয় এবং ট্রান্সফরমারের শর্ট-সার্কিট সহ্য করার ক্ষমতা মূল্যায়ন করার জন্য ভোল্টেজ, কারেন্ট এবং তাপমাত্রার মতো পরামিতিগুলি পর্যবেক্ষণ করা হয়।
তাপমাত্রা বৃদ্ধি পরীক্ষা: রেটেড লোড অবস্থায় কাজ করার সময় ট্রান্সফরমারের উইন্ডিং এবং ইনসুলেশনের তাপমাত্রা বৃদ্ধি নির্ধারণের জন্য তাপমাত্রা বৃদ্ধি পরীক্ষা করা হয়। এই পরীক্ষায় ট্রান্সফরমারকে রেটেড ভোল্টেজ এবং ফ্রিকোয়েন্সিতে একটি প্রতিরোধী লোড বা সেকেন্ডারি উইন্ডিং এর সাথে সংযুক্ত লোড ব্যাঙ্কের সাথে শক্তি দেওয়া এবং তাপমাত্রা সেন্সর বা তাপীয় ইমেজিং ক্যামেরা ব্যবহার করে তাপমাত্রা বৃদ্ধি পর্যবেক্ষণ করা জড়িত। তাপমাত্রা বৃদ্ধি পরীক্ষা যাচাই করে যে ট্রান্সফরমার লোড অবস্থার অধীনে নির্দিষ্ট তাপমাত্রা সীমার মধ্যে কাজ করতে পারে।
ইনসুলেশন রেজিস্ট্যান্স টেস্ট: ট্রান্সফরমারের উইন্ডিং এবং ইনসুলেশন সিস্টেমের ইনসুলেশন রেজিস্ট্যান্স মূল্যায়ন করার জন্য ইনসুলেশন রেজিস্ট্যান্স টেস্ট করা হয়। এই পরীক্ষায় উইন্ডিং এবং গ্রাউন্ডের মধ্যে একটি উচ্চ-ভোল্টেজ ডিসি বা এসি পরীক্ষার ভোল্টেজ প্রয়োগ করা এবং একটি মেগোহমিটার বা অন্তরণ প্রতিরোধের পরীক্ষক ব্যবহার করে অন্তরণ প্রতিরোধের পরিমাপ করা জড়িত। নিরোধক প্রতিরোধের পরীক্ষা নিরোধক সিস্টেমের অখণ্ডতা যাচাই করে এবং নিশ্চিত করে যে ট্রান্সফরমারটি ভাঙ্গন ছাড়াই ভোল্টেজের চাপ সহ্য করতে পারে।
ভোল্টেজ রেগুলেশন টেস্ট: ভোল্টেজ রেগুলেশন টেস্ট করা হয় ট্রান্সফরমারের বিভিন্ন লোড পরিস্থিতিতে নির্দিষ্ট সীমার মধ্যে স্থির আউটপুট ভোল্টেজ বজায় রাখার ক্ষমতা নির্ধারণ করার জন্য। এই পরীক্ষায় ট্রান্সফরমারের সেকেন্ডারি উইন্ডিংয়ে লোডের ধাপ প্রয়োগ করা এবং প্রতিটি লোড ধাপে আউটপুট ভোল্টেজ পরিমাপ করা জড়িত। ভোল্টেজ রেগুলেশন পরীক্ষা যাচাই করে যে ট্রান্সফরমার বিভিন্ন লোড অবস্থার অধীনে গ্রহণযোগ্য সীমার মধ্যে আউটপুট ভোল্টেজ নিয়ন্ত্রণ করতে পারে।
দক্ষতা পরীক্ষা: নির্দিষ্ট লোড অবস্থার অধীনে ট্রান্সফরমারের দক্ষতা নির্ধারণের জন্য দক্ষতা পরীক্ষা করা হয়। এই পরীক্ষায় ট্রান্সফরমারের ইনপুট এবং আউটপুট শক্তি পরিমাপ করা এবং সূত্রটি ব্যবহার করে দক্ষতা গণনা করা জড়িত: দক্ষতা (%)=(আউটপুট পাওয়ার / ইনপুট পাওয়ার) x 100%। দক্ষতা পরীক্ষা যাচাই করে যে ট্রান্সফরমার দক্ষতার মান এবং নিয়ন্ত্রক প্রয়োজনীয়তা পূরণ করে।
এই পরীক্ষাগুলি সাধারণত ফ্যাক্টরি অ্যাকসেপ্টেন্স টেস্টিং (FAT) বা ট্রান্সফরমারগুলির সাইট অ্যাকসেপ্টেন্স টেস্টিং (SAT) এর সময় করা হয় যাতে তারা পাওয়ার সিস্টেমে ইনস্টল এবং চালু হওয়ার আগে ডিজাইনের স্পেসিফিকেশন এবং কর্মক্ষমতা প্রয়োজনীয়তা পূরণ করে।